更新時(shí)間：2022-07-12
AT510X1 嵌入式電阻測(cè)試儀從10μΩ～40kΩ，Z大顯示3999數(shù)。受益于安柏*的電阻測(cè)量技術(shù)，使得測(cè)試速度高達(dá)20次/秒。嵌入機(jī)柜安裝，上下極限設(shè)置，具備PLC觸發(fā)接口，PASS/FAIL輸出。
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| AT510X1 電阻測(cè)試儀 | |||||||||||||||||||||||||
| AT510X1 是一種高精度寬量程、高速度、采用高性能微處理器控制的嵌入式電阻測(cè)試儀。專(zhuān)為工業(yè)控制設(shè)計(jì)的電阻測(cè)試儀，定制量程，從10μΩ～40kΩ，zui大顯示3999數(shù)。受益于安柏*的電阻測(cè)量技術(shù)，使得測(cè)試速度高達(dá)20次/秒。 AT510X1 是迄今zui小型的電阻測(cè)試儀，嵌入機(jī)柜安裝，上下極限設(shè)置，具備PLC觸發(fā)接口，PASS/FAIL輸出。 | |||||||||||||||||||||||||
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| 技術(shù)規(guī)格 | |||||||||||||||||||||||||
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| 性能特征 | |||||||||||||||||||||||||
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| 應(yīng)用 | |||||||||||||||||||||||||
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