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    • AT520B安柏[AT520B高壓電池內(nèi)阻測(cè)試儀]
      AT520B安柏[AT520B高壓電池內(nèi)阻測(cè)試儀]

      ● 電阻測(cè)量范圍:0 ~ 3Ω。 ● 開(kāi)路電壓測(cè)量范圍:0.0V~800.0V。 ● 測(cè)試參數(shù):R/OV/CV ● 電阻基本準(zhǔn)確度:0.3% ● 電壓基本準(zhǔn)確度:0.5%

      時(shí)間:2015-08-29型號(hào):AT520B瀏覽量:736
    • AT520L常州安柏[AT520L電池內(nèi)阻測(cè)試儀]
      AT520L常州安柏[AT520L電池內(nèi)阻測(cè)試儀]

      ● 電阻測(cè)量范圍:0.01mΩ ~ 32Ω。 ● 電壓測(cè)量范圍:1mV~60V。 ● 測(cè)試參數(shù):交流電阻和直流電壓 ● 電阻基本準(zhǔn)確度:0.5% ● 電壓基本準(zhǔn)確度:0.1%

      時(shí)間:2015-08-14型號(hào):AT520L瀏覽量:1080
    • KC2512金日立│KC2512直流低電阻測(cè)試儀
      KC2512金日立│KC2512直流低電阻測(cè)試儀

      KC2512直流低電阻測(cè)試儀 電阻測(cè)量范10μΩ—20kΩ(分五檔) 電阻準(zhǔn)確度 20mΩ-0.2%±3 200mΩ~20KΩ-0.1%±3 測(cè)試電流100mA

      時(shí)間:2015-07-26型號(hào):KC2512瀏覽量:1420
    • 手持交流低電阻測(cè)試儀AT528│[AT528手持式交流低電阻測(cè)試儀]常州安柏Applent
      手持交流低電阻測(cè)試儀AT528│[AT528手持式交流低電阻測(cè)試儀]常州安柏Applent

      AT528手持式交流低電阻測(cè)試儀是一款可使電阻電壓同時(shí)檢測(cè)的儀表,采用高性能32位ARM微處理器控制的全自動(dòng)實(shí)時(shí)檢測(cè)的微型手持式儀器,在任何場(chǎng)合可長(zhǎng)時(shí)間實(shí)現(xiàn)對(duì)無(wú)源元件進(jìn)行精確而便捷的測(cè)量。 儀器可以測(cè)試1mΩ~3.2kΩ 的電阻,0~50V直流電壓,電阻Z大3200顯示位數(shù),電壓Z大5000顯示位數(shù)。測(cè)試速度在15次/秒下,依然可以保證0.5%的精度,并且讀數(shù)跳動(dòng)控制在3字以下。

      時(shí)間:2015-09-17型號(hào):手持交流低電阻測(cè)試儀AT528│瀏覽量:807
    • Applent_AT518手持直流低阻儀常州安柏[AT518手持直流低電阻測(cè)試儀]
      Applent_AT518手持直流低阻儀常州安柏[AT518手持直流低電阻測(cè)試儀]

      常州安柏│AT518手持直流低電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程,可以測(cè)試10μΩ~20MΩ 的電阻, Z大顯示數(shù)20000數(shù)。測(cè)試速度在15次/秒下,依然可以保證0.05%的精度。它*的電流測(cè)試模式可以適應(yīng)不同要求的測(cè)試。并配備Mini-USB通訊接口,用于遠(yuǎn)程控制和數(shù)據(jù)采集與分析。

      時(shí)間:2015-09-06型號(hào):Applent_AT518手持直流低阻儀瀏覽量:837
    • 任意路數(shù)電阻測(cè)試儀安柏Applent[AT510X1電阻測(cè)試儀]
      任意路數(shù)電阻測(cè)試儀安柏Applent[AT510X1電阻測(cè)試儀]

      安柏Applent|AT510X1電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、高速度、采用高性能微處理器控制的嵌入式電阻測(cè)試儀。專為工業(yè)控制設(shè)計(jì)的電阻測(cè)試儀,定制量程,從10μΩ~40kΩ,Z大顯示3999數(shù)。受益于安柏*的電阻測(cè)量技術(shù),使得測(cè)試速度高達(dá)20次/秒。AT510X1 是迄今Z小型的電阻測(cè)試儀,嵌入機(jī)柜安裝,上下極限設(shè)置,具備PLC觸發(fā)接口,PASS/FAIL輸出。

      時(shí)間:2015-08-14型號(hào):任意路數(shù)電阻測(cè)試儀瀏覽量:1018
    • 6數(shù)電阻測(cè)試儀AT510X6安柏Applent[AT510X6多路電阻測(cè)試儀]
      6數(shù)電阻測(cè)試儀AT510X6安柏Applent[AT510X6多路電阻測(cè)試儀]

      安柏Applent|AT510X6多路電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、超高掃描速度、采用高性能微處理器控制的多路電阻測(cè)試儀。為您量身定做的多路電阻測(cè)試儀,定制量程,從1μΩ~3MΩ,Z大顯示3999數(shù)。受益于安柏*的電阻測(cè)量技術(shù),使得多路測(cè)試周期高達(dá)50ms/次,AT510X6 6路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)120個(gè)器件的測(cè)試。配備Handler接口,將多路測(cè)試結(jié)果同時(shí)輸出給PLC。

      時(shí)間:2015-08-14型號(hào):6數(shù)電阻測(cè)試儀AT510X6瀏覽量:1056
    • 10數(shù)電阻測(cè)試儀AT510X10安柏Applent[AT510X10 10路電阻測(cè)試儀]
      10數(shù)電阻測(cè)試儀AT510X10安柏Applent[AT510X10 10路電阻測(cè)試儀]

      安柏Applent|AT510X10 10路電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、超高掃描速度、采用高性能微處理器控制的多路電阻測(cè)試儀。為您量身定做的多路電阻測(cè)試儀,定制量程,從1μΩ~3MΩ,Z大顯示3999數(shù)。受益于安柏*的電阻測(cè)量技術(shù),使得多路測(cè)試周期高達(dá)50ms/次,AT510X10 十路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)200個(gè)器件的測(cè)試。配備Handler接口,將多路測(cè)試結(jié)果同時(shí)輸出給PLC。

      時(shí)間:2015-08-21型號(hào):10數(shù)電阻測(cè)試儀AT510X10瀏覽量:911
    • 20數(shù)電阻測(cè)試儀AT510X20安柏Applent[AT510X20 20路電阻測(cè)試儀]
      20數(shù)電阻測(cè)試儀AT510X20安柏Applent[AT510X20 20路電阻測(cè)試儀]

      安柏Applent|AT510X20 20路電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、超高掃描速度、采用高性能微處理器控制的多路電阻測(cè)試儀。為您量身定做的多路電阻測(cè)試儀,定制量程,從1μΩ~3MΩ,Z大顯示3999數(shù)。受益于安柏*的電阻測(cè)量技術(shù),使得多路測(cè)試周期高達(dá)50ms,AT510X20 20路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)400個(gè)器件的測(cè)試。配備Handler接口,將多路測(cè)試結(jié)果同時(shí)輸出給PLC。

      時(shí)間:2015-08-15型號(hào):20數(shù)電阻測(cè)試儀AT510X20瀏覽量:847
    • 40數(shù)電阻測(cè)試儀AT510X40安柏Applent[AT510X40 40路電阻測(cè)試儀]
      40數(shù)電阻測(cè)試儀AT510X40安柏Applent[AT510X40 40路電阻測(cè)試儀]

      安柏Applent|AT510X40 40路電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、超高掃描速度、采用高性能微處理器控制的多路電阻測(cè)試儀。為您量身定做的多路電阻測(cè)試儀,定制量程,從1μΩ~3MΩ,Z大顯示3999數(shù)。受益于安柏*的電阻測(cè)量技術(shù),使得多路測(cè)試周期高達(dá)50ms/次,AT510X20 40路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)800個(gè)器件的測(cè)試。配備Handler接口,將多路測(cè)試結(jié)果同時(shí)輸出給PLC。

      時(shí)間:2015-08-16型號(hào):40數(shù)電阻測(cè)試儀AT510X40瀏覽量:872
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